Compact Digital Next> series

Les innovations les plus récentes en matière de composants numériques exigent un testeur numérique plus sophistiqué dont les capacités vont au-delà du simple analyseur logique. La fabrication industrielle exige des capacités de traitement au niveau du matériel pour accélérer les temps de test. En même temps, les nouvelles familles de logiques, basées sur la caractérisation de niveaux de tension variables et de signaux simples ou différentiels, continuent à les rendre encore plus complexes.
Le testeur désigné sous le nom de Compact Digital Test System (DTS) Next>series est la réponse de Seica à la demande constante de test de dispositifs intégrés via des techniques vectorielles et des protocoles dédiés tels que le Boundary Scan, sans exclure la nécessité de combiner également le test en circuit.
Ressources Ate – Tests ICT et fonctionnels
Comme toute autre solution Seica, le système de test Compact DTS Next>series utilise la plateforme VIP, dont la principale caractéristique est la possibilité de fournir la meilleure intégration de la technologie et la facilité d’utilisation, en fournissant à l’utilisateur toutes les capacités requises pour les tests en circuit et fonctionnels sans être nécessairement un expert.
Ceci est possible grâce au système de mesure de pointe (basé sur le module propriétaire ACL) et au logiciel de gestion VIVA. Le premier, mis en œuvre sur la technologie DSP, intègre toutes les capacités de test tout en permettant l’exécution entièrement automatisée des tests. De plus, la communication avec le PC principal via un câble à fibre optique minimise la sensibilité aux perturbations externes. Le second, conçu avec une logique simple et conviviale, offre une autonomie opérationnelle en termes de gestion du système et d’exécution des routines de test. Avec le module Quick Test, un logiciel graphique spécialement conçu pour compiler et exécuter des tests fonctionnels dans des délais réduits, l’opérateur peut programmer correctement n’importe quelle ressource du système sans connaître ni l’architecture interne ni un langage de programmation spécifique.
Test numérique jusqu’à 25 MHz
Outre le fait que le module ACL dispose déjà de 4 canaux numériques sur chaque TP, Seica a développé et amélioré son matériel pour les tests numériques au fil du temps, atteignant les performances et les capacités intégrées dans le module F50.
C’est une carte de 32 canaux numériques, qui peut atteindre une fréquence de trame de 25 MHz. Il comprend des drivers et des capteurs numériques (avec une programmation de la tension du signal jusqu’à 12V et une mémoire embarquée dédiée de 256Kb), 4 générateurs d’impulsions qui peuvent également fonctionner en mode de fonctionnement sans horloge (1 tous les 8 canaux de la carte), ce qui le rend soit synchrone soit asynchrone par rapport aux motifs numériques. Tout cela, combiné aux 4 compteurs indépendants de fréquence, de période ou d’impulsions et aux ressources pour les tests analogiques à 2 lignes, font de la F50 une solution de pointe.
Logiciel de programmation
Capitalisant sur les trente ans d’expérience de Seica dans le domaine des tests électroniques, le VIVA Environment offre un ensemble d’options et de fonctionnalités qui le rendent vraiment flexible et facile à utiliser. Ce logiciel permet à l’utilisateur de combiner les TIC et les tests fonctionnels, pour une meilleure vitesse de traitement et une meilleure couverture des défauts grâce à un environnement graphique fonctionnel qui guide l’utilisateur à travers les étapes de création et d’exécution du programme de test. Un environnement dédié NVL (Neutral VIVA Language) est disponible pour le développement de tests numériques, où il est possible de vérifier, de déboguer et d’exécuter des programmes. Cet environnement permet la manipulation et l’intégration simultanée d’instructions fonctionnelles et de « gestion » analogiques, numériques, afin de mettre en œuvre un test fonctionnel complet.
En cas de programmation en mémoire (par exemple I2C, protocole SPI), le NVL permet une intégration facile et une utilisation directe des fichiers de programmation standard Intel/Motorola (.bin, . mot, . hex). Un outil graphique offrant des capacités d’acquisition de forme d’onde via une sonde externe ou un canal interne facilite encore plus la réparation en cas de test fonctionnel numérique. L’architecture ouverte du logiciel VIVA le rend compatible avec d’autres langages de programmation (p. ex. Python, VBS) et des modules logiciels tiers (EXE. et .DLL).
Différentes configurations pour une meilleure mise en œuvre
La partie numérique d’un testeur DTS peut être configurée pour répondre à différentes exigences, et pour obtenir les meilleures performances :
– Utilisation de la connexion directe de la voie numérique de la carte F50. Les ressources système disponibles sont entièrement numériques.
– Mise en œuvre de canaux hybrides directs par combinaison de cartes F50 et S64. Cette solution mettra à disposition sur les points de test toutes les ressources numériques et analogiques du testeur Compact DTS Next>series. Il s’agit d’une configuration directe des canaux, permettant ainsi la récupération des montages existants mis en œuvre sur d’autres systèmes d’essai
– Multiplexage des canaux numériques. Si un nombre élevé de canaux numériques est nécessaire, Seica peut également fournir une solution rentable pour multiplexer les canaux numériques (même avec un rapport de 1:8), faisant du testeur DTS un système entièrement numérique optimisant les ressources du système.
Nouvelle ergonomie
Tout en conservant les caractéristiques principales de la famille de produits, le Compact DTS Next>series été conçue pour permettre une intégration immédiate en ligne, car tout élément qui la rendait incompatible avec les lignes robotisées d’un point de vue mécanique a été réduit.
L’utilisation d’un récepteur à vide, disponible en option avec le récepteur pneumatique standard, rend le produit encore plus compact, tout en offrant une plus grande flexibilité d’utilisation des différents types de fixation selon les exigences.