Seica a le plaisir de vous inviter au webinaire : Test complet des probe cards, en dépassant les limites pour accéder à la zone MLO, le 18 mars.
On débattra sur les dernières technologies disponibles pour les test à sondes mobiles orienté aux probe cards, meme les plus plus complèxes, où le besoin demande haute précision et faible impactes pour tout type de circuit et de matériel, y compris les MLO.
